[工學(공학) ] [방사선 기기학] The method of X-ray scanning[XRD 스캔방법]
페이지 정보
작성일 20-10-13 01:16본문
Download : [공학] [방사선 기기학] The method of X-ray scanning[XRD 스캔방법].hwp
배면 반사 Laue 법(back-reflection Laue method)에서 필름은 결정과 x선 원 사이에 놓이고 입사빔은 필름에 뚫린 구멍을 통과하여 후방으로 회절한 빔을 기록한다.[공학],[방사선,기기학],The,method,of,X-ray,scanning[XRD,스캔방법],공학기술,레포트
![[공학]%20[방사선%20기기학]%20The%20method%20of%20X-ray%20scanning[XRD%20스캔방법]_hwp_01.gif](http://www.allreport.co.kr/View/%5B%EA%B3%B5%ED%95%99%5D%20%5B%EB%B0%A9%EC%82%AC%EC%84%A0%20%EA%B8%B0%EA%B8%B0%ED%95%99%5D%20The%20method%20of%20X-ray%20scanning%5BXRD%20%EC%8A%A4%EC%BA%94%EB%B0%A9%EB%B2%95%5D_hwp_01.gif)
![[공학]%20[방사선%20기기학]%20The%20method%20of%20X-ray%20scanning[XRD%20스캔방법]_hwp_02.gif](http://www.allreport.co.kr/View/%5B%EA%B3%B5%ED%95%99%5D%20%5B%EB%B0%A9%EC%82%AC%EC%84%A0%20%EA%B8%B0%EA%B8%B0%ED%95%99%5D%20The%20method%20of%20X-ray%20scanning%5BXRD%20%EC%8A%A4%EC%BA%94%EB%B0%A9%EB%B2%95%5D_hwp_02.gif)
![[공학]%20[방사선%20기기학]%20The%20method%20of%20X-ray%20scanning[XRD%20스캔방법]_hwp_03.gif](http://www.allreport.co.kr/View/%5B%EA%B3%B5%ED%95%99%5D%20%5B%EB%B0%A9%EC%82%AC%EC%84%A0%20%EA%B8%B0%EA%B8%B0%ED%95%99%5D%20The%20method%20of%20X-ray%20scanning%5BXRD%20%EC%8A%A4%EC%BA%94%EB%B0%A9%EB%B2%95%5D_hwp_03.gif)
![[공학]%20[방사선%20기기학]%20The%20method%20of%20X-ray%20scanning[XRD%20스캔방법]_hwp_04.gif](http://www.allreport.co.kr/View/%5B%EA%B3%B5%ED%95%99%5D%20%5B%EB%B0%A9%EC%82%AC%EC%84%A0%20%EA%B8%B0%EA%B8%B0%ED%95%99%5D%20The%20method%20of%20X-ray%20scanning%5BXRD%20%EC%8A%A4%EC%BA%94%EB%B0%A9%EB%B2%95%5D_hwp_04.gif)
![[공학]%20[방사선%20기기학]%20The%20method%20of%20X-ray%20scanning[XRD%20스캔방법]_hwp_05.gif](http://www.allreport.co.kr/View/%5B%EA%B3%B5%ED%95%99%5D%20%5B%EB%B0%A9%EC%82%AC%EC%84%A0%20%EA%B8%B0%EA%B8%B0%ED%95%99%5D%20The%20method%20of%20X-ray%20scanning%5BXRD%20%EC%8A%A4%EC%BA%94%EB%B0%A9%EB%B2%95%5D_hwp_05.gif)
[工學(공학) ] [방사선 기기학] The method of X-ray scanning[XRD 스캔방법]
Download : [공학] [방사선 기기학] The method of X-ray scanning[XRD 스캔방법].hwp( 59 )
[공학] [방사선 기기학] The method of X-ray scanning[XRD 스캔방법] , [공학] [방사선 기기학] The method of X-ray scanning[XRD 스캔방법]공학기술레포트 , [공학] [방사선 기기학] The method of X-ray scanning[XRD 스캔방법]
레포트/공학기술
설명
[방사선 기기학] The method of X-ray scanning[XRD 스캔방법]
1.Laue 법
Laue 법은 처음으로 사용한 회절법이며 Laue 경의 본래 實驗(실험)을 재현한다. 투과 Laue 법(transmission Laue method, 최초의 Laue 법)에서 필름은 전방으로 회절하는 빔을 기록하기 위해 결정 뒤에 놓인다. 이 용어는 어떤 특정한 뜻을 포함하고 있는 것은 아니고 반점의 주기적인 배열을 의미하지도 않는다. 이 곡선은 보통 투과무늬에서 타원이나 쌍곡선이고 [그림 3-10(a)] 배면 반사(back-reflection Laue method)에서는 쌍곡선이다[그림3-10(b)].
같은 곡선 위에 있는 반점은 같은 정대에 속하는 면에서 나온 반사이다. 그러나 사진에 그린 선으로 나타낸 바와 같이 반점은 어떤 곡선 위에 놓인다. 이 반점의 배열을 보통 무늬(pattern)라고 한다. 그 결과 회절한 각각의 빔은 파장이 다르게 된다
Laue 법에는 x선 원, 결정, 필름 내의 상대 위치에 따라 두 가지 방법이 있다(그림 3-9). 둘다 모두 필름은 편평한 것을 사용하고 입사빔에 수직으로 놓인다.
어느 방법이든 회절빔은 그림3-10에 나타낸 것과 같은 반점 배열을 필름에 형성한다. 회절된 빔이 부분적으로 결정을 투과하기 때문에 그렇게 부른다. 이런 일은 한 정대의 면에서 나온 Laue 반사는 모두 그 정대축을 축으로 하는 가상적인 원추의 표면 위에 있다는 사실 때문일것이다 그림 3-…(skip)
[工學(공학) ] [방사선 기기학] The method of X-ray scanning[XRD 스캔방법]
순서
다. 따라서 Bragg각인 θ를 결정 내의 모든 조의 면에 대하여 고정하고 각 조의 면은 특정한 d와 θ의 값에 대하여 Bragg 법칙을 만족하는 x선 파장을 선택하여 회절한다. 이 방법에서는 x선 관에서 나온 연속스펙트럼인 백색 x선을 고정한 단결정에 맞춘다.